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W29GL064C
8.4
Switching Test Circuits
DEVICE UNDER
TEST
3.3V
2.7K Ω
CL
6.2K Ω
Figure 8-3
Switch Test Circuit
Test Condition
Output Load
Output Load Capacitance
Rise/Fall Times
Input Pulse levels
Input timing measurement reference level (If E VIO <V CC , the reference level
is 0.5 E VIO )
Output timing measurement reference levels
Table 8-4
Test Specification
8.4.1
Switching Test Waveform
E VIO
All Speeds
1TTL gate
30
5
0.0 - E VIO
0.5E VIO
0.5E VIO
Unit
pF
ns
V
V
V
0.0V
E VIO / 2
INPUT
Test Points
OUTPUT
E VIO / 2
Figure 8-4
Switching Test Waveform
Publication Release Date: August 2, 2013
31
Revision H
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